الأربعاء 24 ابريل 2024 أبوظبي الإمارات
مواقيت الصلاة
أبرز الأخبار
عدد اليوم
عدد اليوم
اقتصاد

مهندس إماراتي يقدم ورقتين خلال مؤتمر بأميركا

22 سبتمبر 2013 21:49
دبى (وام) ــ مثل سعيد المنصوري المهندس المشارك بقسم تحليل ومعالجة الصور الفضائية في “مؤسسة الإمارات للعلوم والتقنية المتقدمة” المؤسسة في مؤتمر “أس. بيه. آي. إيه لعلوم البصريات والضوئيات 2013” الذي أقيم مؤخرا في مركز سان دييجو للمؤتمرات في سان دييجو بأميركا. وقدم المنصوري في المؤتمر ورقتين بحثيتين الأولى بعنوان “خطة العلامات المائية المتعددة لحماية حقوق النشر ومصادقة محتوى صور الأقمار الصناعية لقمر دبي سات 1”، فيما تمحورت الثانية حول سبل “تحسين جودة صور الأقمار الصناعية باستخدام صورة واحدة فائقة الدقة”. وترأس المنصوري جلسة حول ضغط بيانات الأقمار الصناعية والاتصالات والمعالجة خلال المؤتمر المنظم من قبل “الجمعية الدولية لعلوم البصريات والضوئيات”. ويشغل المنصوري منصب عضو اللجنة المنظمة للمؤتمر الذي تواصل لخمسة أيام مستقطبا خيرة المفكرين والعقول والخبراء في مجالات علم النانو والهندسة والطاقة الشمسية والتقنية العضوية والضوئيات والالكترونيات والهندسة والتطبيقات البصرية. وأثنى المشاركون على جهود “مؤسسة الإمارات للعلوم والتقنية المتقدمة” الرامية إلى زيادة عدد المهندسين الإماراتيين المتخصصين معربين عن إعجابهم بخبرات المنصوري في مجال علم البصريات والضوئيات. وقال يوسف الشيباني المدير العام لـ”مؤسسة الإمارات للعلوم والتقنية المتقدمة “حقق المهندس سعيد المنصوري نجاحا كبيرا من خلال مشاركته في مؤتمر «أس. بيه. آي. إيه للبصريات والضوئيات 2013» في أمريكا وتقديمه لورقتين بحثيتين ما يجسد القدرات الكبيرة التي تتميز بها كفاءاتنا المواطنة في الوصول إلى العالمية”.
جميع الحقوق محفوظة لمركز الاتحاد للأخبار 2024©